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上海安全测评中心荣获国家科技进步二等奖

发布时间:2018-01-09 15:44:01    访问次数:

     2018年1月8日,中共中央、国务院在北京隆重举行2017年度国家科学技术奖励大会。党和国家领导人习近平、李克强、张高丽、王沪宁等出席大会并为获奖代表颁奖。上海市信息安全测评认证中心参与完成的“密码芯片系统的攻防关键技术研究及应用”获国家科技进步二等奖。
      “密码芯片系统的攻防关键技术研究及应用”项目在国家973计划、自然基金、核高基、发改委专项和上海市信息化专项等项目的支持下,通过6家单位联合攻关,解决了密码芯片系统攻防的核心关键技术问题,建立了组合逻辑功耗模型、提出了一系列密码算法的统计分析方法和密码芯片系统的旁路分析方法,验证了针对密码芯片的检测工具和方法,支撑了国家认证部门、安全部门、科研机构的重要工作。
     上海安全测评中心此次获奖,是时隔十二年之后再次获得该奖项,展示了测评中心在智能卡安全检测环境的建设新成果,反映出近十年来智能卡类产品EAL4+安全检测的工作积累,也体现了团队技术创新能力和不断进步的科研水平。
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